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2024-11-25
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ZJ-5型積層壓電測試儀（積層靜壓電系數(shù)d33測量儀）是為測量積層壓電材料的d33常數(shù)而設計的儀器，它可用來測量具有積層大壓電常數(shù)的壓電陶瓷，小壓電常數(shù)的壓電單晶及壓電高分子材料。ZJ-5型積層靜壓電系數(shù)d33測量儀測量范圍寬，分辨率細，可靠性高，操作簡單，對試樣大小及形狀無特殊要求，圓片、圓環(huán)、圓管、方塊、長條、柱形及半球殼等均可測量。
Radiant Multiferroic II鐵電材料測試儀無需改變測試樣品的連接，即可實現(xiàn)滯回，脈沖，漏電，IV和IC的測試。配備額外的模塊，可實現(xiàn)熱釋電性能、磁電特性、晶體管特性、低溫性能、塊體陶瓷和/或薄膜壓電性能的測試。 Multiferroic II提供了多種內部放大器，±100V/200V/500v內置驅動電壓的可供選擇。可外置擴展10KV的高壓接口和一個放大器。系統(tǒng)包括可視化數(shù)據(jù)采
TDJC-5000型電滯回線及高電壓介電擊穿強度測試系統(tǒng)是一款高量程款的鐵電性能材料測試裝置，這款設備可以適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、可測出具有非對稱電滯回線鐵電薄膜值。同時可以進行擊穿測試，可以進行電致應變測試，可以蝴蝶曲線功能，設備還可以擴展高溫電阻，高溫介電，電容-電壓曲線，TSC/TSDC等功能。本儀器是從事壓電材料及壓電元件生產(chǎn)、
GWJDN-0.1HZ型四通道超低頻高溫介電測量系統(tǒng)應用于高溫環(huán)境下材料、器件的導電、介電特性測量與分析，通過配置不同的測試設備，完成不同參數(shù)的測試。是一款超低頻高低溫四通道介電測試系統(tǒng)，科研級別是國家科研院所和高等學府選用設備。
HTIM-1600超高溫絕緣電阻測試儀采用使用方法多樣化，最大2000V，最快6.4ms的采集系統(tǒng)，實現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測量，作為皮安表使用進行低電容檢查，最高2×10^19 Ω顯示，最小0.1fA分辨率標配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB，自行設計的懸浮式電路，能不受測量環(huán)境影響進行穩(wěn)定測量，并且運用在產(chǎn)線中實現(xiàn)高速測量。可實現(xiàn)絕緣材料
本測試系統(tǒng)由主控器、高壓放大器、變溫綜合測試平臺（配鐵電測試盒）或高低溫探針臺（配高壓探針）、計算機及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發(fā)生器、內置驅動電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數(shù)轉換器、通訊總線等功能，主控器提供擴展外置高壓放大器接口，可擴展±5 kV或±10 kV的高壓放大器。系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能，測試時，無需改變測試樣品的連接，即可實現(xiàn)滯回，脈沖，漏電，IV等性
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