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2024-11-25
+2024-11-11
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主要功能： 材料介電常數測試儀 半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性液晶材料:液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性 性能特點: 溫度：RT-1000℃ 測試頻率: 20Hz- 21MHz, 分辨率:最高0.1mHz 基本精度: 0.05% 測試速度:最快5. 6ms/次 測試原理:自動平衡電橋 高穩定性和一致性:高達15個測試量程配置 高分辨: 7英寸, 800X600
BKTEM-3A型熱電材料性能測試儀(動態法)也稱溫差電材料（thermoelectric materials）是一種利用固體內部載流子運動，實現熱能和電能直接相互轉換的功能材料。熱電效應是電流引起的可逆熱效應和溫差引起的電效應的總稱，包括塞貝克（seebeck）效應、波爾貼（Peltier）效應和湯姆遜（Thomoson）效應。
BKTEM-S4型熱電賽貝克系數測試儀 關鍵詞：賽貝克系數，電阻 熱功率、熱電勢、或塞貝克系數描述的都是材料在一定溫差條件下產生感應熱電電壓的大小，單位是V/K。 ??近年來直接將熱能轉化成電能的方法引起人們的廣泛興趣。通過熱電裝置收集熱發動機和燃燒系統余熱并轉換成電能可以節省數十億美元。
SCTS-2000系型雙電測四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測-改進形范德堡測量方法測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高正確度，特
熱刺激理論是在介質物理的基礎上發展起來的，研究這一理論的方法即熱刺激法比較簡單實用而且又能較準確地測量出某些物質（如電介質、絕緣材料、半導體、駐極體等）的微觀參數，熱刺激法是一面對材料升溫一面進行測量，即非等溫測量。由于材料（例如介電材料）中的荷電粒子的微觀參數（如活化能h、松弛時間τ等）不同，用熱刺激法就很容易將材料中的各種不同h或τ的荷電粒子分離開來，從而求出各自的參數。因為熱刺激電流與材料的
TDT-3000 Analyzer型擴展型鐵電分析儀 是一款的高速型模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯用，可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執行器/存儲器等領域的研究。 模塊化設計的TDT-3000型鐵電分析儀 具有優異的擴展性，提供高達15中測試功能
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